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GWB-200JA引伸計標定儀產品介紹
點擊次數:1977 更新時間:2016-04-26

GWB-200JA型引伸計標定儀

GWB-200JA型引伸計標定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762-92引伸計檢定規程要求,專門用于對各類引伸計的標定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

GWB-200JA型引伸計標定儀結構特點及讀數方式

1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,同時配有加長立柱附件,配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣,可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要,配置配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內

筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其zui大量程25㎜;

zui小分度(游標分度)0.0002㎜;旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數為:

L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0

其中:a-內筒毫米刻線讀數

b-外筒刻線讀數

c-游標刻線讀數

a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數

 

GWB-200JA型引伸計標定儀精密微分筒

二、各項技術精度指標

1、測量引伸計標距范圍Lmax      500㎜

2、測量支座上支臂安裝孔徑        φ10;φ28

3、微分測頭讀數內筒軸向刻度       0.5㎜/格

4、微分測頭讀數內筒游標刻度    0.0002㎜/格

5、微分測頭讀數外筒園周刻度     0.002㎜/格

6、高精密微分測頭精度指標

標定儀示值誤差:

量程0.5㎜以內≤0.5μm    誤差

量程0.5㎜以上≤0.10%     逐點相對誤差

參照標準:

JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范

ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定

JJG762-1992 引伸計檢定規程

可進行0.5級引伸計的標定

三、GWB-200JA型引伸計標定儀使用說明

請依據JJG762-92引伸計檢定規程要求,進行引伸計的檢定:

1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格,選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。

2、調整兩測量支臂的位置,獲得適宜的檢定空間;調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調整測微頭與下底座的距離,以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位,在檢定過程中除準許運動位移的部分外,都不準許有任何滑動或松動。

3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:

(1)檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如,使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據,那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。

(2)對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內,檢定10點,即每0.1㎜檢一點。

(3)檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法,不要用游標估算讀數或小數尾數讀數,因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞,估算讀數或小數尾數

讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法zui清晰簡單準確,出現誤差的機率zui小,即便出現也會及時發現,因為整數刻度倍讀數的誤差,其引伸計誤差值也會成倍數增加,這種粗大誤差會被很快及時發現。

4、加長立柱的使用:在使用基本立柱檢定引伸計時,無法保證該引伸計的標距空間時,取掉基本立柱上保護帽,將加長立柱插入主立柱對準V型槽,旋緊上螺絲。一定要固緊后,方可使用。

四、GWB-200JA型引伸計標定儀隨本儀器配有測量附件

1、組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。

2、刀片4件。裝置于組合校準桿上:用于COD或JIC夾規檢定。

3、橫試片2件。裝置于組合校準桿上:用于橫向引伸計的檢定。

4、板件2件。裝置于組合校準桿上:用于模擬板材試樣的檢定。

5、φ10×100桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。

6、φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。

7、φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。

8、φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。

9、170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。

10、聯接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上,連接分離試樣進行檢定。

11、為調試及安裝方便,隨儀器配有14號呆扳手一把、3號內六角扳手一把、一字頭、十字頭螺絲刀各一把。

 

GWB-200JA型引伸計標定儀測量附件

五、維護與保養

1、上、下支臂拆裝時,應防止定位釘或鋼球的脫落,抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。

2、器出廠時微分頭精度已調校,使用中不得自行拆卸。

3、應在清潔無塵環境使用,并注意隨時保持儀的清潔無塵。

4、注意防止外力損傷及銹蝕的產生。

 

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